ACR核磁認(rèn)證模體

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模體主要可進(jìn)行圖像掃描和具有圖像分析功能： B. 1. 幾何精度幾何精度測(cè)試評(píng)估圖像代表成像對(duì)象的真實(shí)尺寸的準(zhǔn)確性。它包括進(jìn)行模體長(zhǎng)度和直徑的測(cè)量，在模體中容易識(shí)別的位置之間，并將結(jié)果與已知的模體尺寸進(jìn)行比較。故障意味著測(cè)量的尺寸與真實(shí)尺寸的差異遠(yuǎn) 遠(yuǎn)超過通常的正常工作的掃描儀。使用 ACR矢狀面定位器圖像和ACR軸向T1系列的切片1和切片5來評(píng)估幾何精度。在切片5中構(gòu)建插入物的材料因制造模體的日期而不同。對(duì)于較老的大型ACR模體，切片 5將由一個(gè)網(wǎng)格組成。中型模體和較新的大型模體將有一個(gè)丙烯酸插入與等間距的孔。兩個(gè)插入件的功能是相同的，以指導(dǎo)測(cè)量。 B.2. 高對(duì)比度的空間分辨率高對(duì)比度空間分辨率測(cè)試是在對(duì)比度噪聲比 (CNR) 足夠高時(shí) ，評(píng)估掃描儀分辨小物體的能力。該測(cè)試的失敗意味著，對(duì)于給定的視場(chǎng) (FOV) 和采集矩陣，掃描儀不能像正常工作的掃描儀那樣解決小細(xì)節(jié) 。然而，由于臨床方案通常會(huì)進(jìn)行調(diào)整以優(yōu)化高對(duì)比度分辨率，如果 ACR系列的站點(diǎn)分辨率失敗，則將該測(cè)試應(yīng)用于站點(diǎn)系列。提交的圖像必須通過其中一個(gè) ACR系列或兩個(gè)網(wǎng)站系列。 B. 3. 切片厚度精度切片厚度精度測(cè)試評(píng)估了達(dá)到指定厚度的切片的精度。將規(guī)定的切片厚度與測(cè)量的切片厚度進(jìn)行比較。該測(cè)試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的厚度與規(guī)定的厚度基本不同的切片。這個(gè)問題通常不會(huì)孤立地發(fā)生，因?yàn)榭赡軐?dǎo)致它的掃描儀缺陷也可能導(dǎo)致其他圖像問題。因此，失敗的影響不僅是切片太厚或太薄，還可能導(dǎo)致圖像對(duì)比度差和低信噪比。 B.4. 切片位置精度切片位置精度測(cè)試評(píng)估了利用定位器圖像作為位置參考，在特定位置指定切片的精度。該測(cè)試的失敗意味著所獲得的切片的實(shí)際位置與規(guī)定位置的差異遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了一個(gè)正常運(yùn) 行的掃描儀的正常水平。 B. 5. 圖像強(qiáng)度均勻圖像強(qiáng)度均勻性測(cè)試測(cè)量的是靠近成像體積中間的一個(gè)大區(qū)域的圖像強(qiáng)度的均勻性，該區(qū)域通常靠近頭部線圈的中心。頭部線圈往往具有相當(dāng)均勻的靠近線圈中心的空間靈敏度。然而，信號(hào)分布隨線圈的設(shè) 計(jì)而變化。相位陣列線圈自然產(chǎn)生更亮的信號(hào) ，立即鄰近較小的線圈元件的外圍，因此需要應(yīng)用強(qiáng)度或均勻性校正來通過這個(gè)測(cè)試。由于ACR MRAP模體充滿了導(dǎo)電溶液，在3特斯拉及更高的場(chǎng)強(qiáng)下，介電效應(yīng)顯著。這種偽影的發(fā)生是因?yàn)?，隨著b0的增加，射頻波長(zhǎng)會(huì)減小，直到它們接近模體的大小。從不同方向聚集在模體上的站立電子波可以在模體的不同區(qū)域產(chǎn)生破壞性干涉和建設(shè)性干涉的模式。這通常表現(xiàn)為高電導(dǎo)率模體的中心變亮。由于介電效應(yīng) ，建議采用與臨床圖像相同的強(qiáng)度不均勻性校正方法來獲取模體圖像。均勻性測(cè)試的失敗意味著掃描儀/線圈組合在圖像強(qiáng)度上的變化明顯大于一個(gè)正常運(yùn)行的系統(tǒng)。缺乏圖像強(qiáng)度均勻性可能表明以下情況： ( 1)未使用強(qiáng)度不均勻性校正； (2)掃描儀中存在缺陷； (3)有缺陷的磁頭線圈；和/或(4)射頻子系統(tǒng)中存在的問題。 B.6. 信號(hào)重影百分比信號(hào)重影測(cè)試評(píng)估了ACR T1圖像中的重影程度。模體是一種人工制品，它將圖像物體的微弱副本 (模體) 疊加在圖像上，并從真實(shí)位置移動(dòng)。如果有許多低級(jí)的鬼魂，它們可能無法識(shí)別為物體的副本，而只是從真實(shí)圖像的相位編碼方向發(fā)出的信號(hào)的涂抹。鬼影是脈沖周期重復(fù)之間信號(hào)不穩(wěn)定的結(jié)果。在這個(gè)測(cè)試中，鬼影信號(hào)電平被測(cè)量并報(bào)告為真實(shí) (主) 圖像中信號(hào)電平的百分比。模體在圖像的背景區(qū)域最為明顯，在那里應(yīng)該沒有信號(hào) ，但重影也覆蓋了圖像的主要部分，改變了真實(shí) 的圖像強(qiáng)度。這個(gè)測(cè)試的失敗意味著有重影偽影明顯高于在正常運(yùn)行的掃描儀中觀察到的水平。 B.7. 低對(duì)比度物體的可檢測(cè)性低對(duì)比度的物體可檢測(cè)性 (LCD) 測(cè)試評(píng)估了低對(duì)比度的物體在圖像中可識(shí)別的程度。為此目的，模體有四個(gè)部分，其大小和對(duì)比度的低對(duì)比度對(duì)象都不同。檢測(cè)低對(duì)比度物體的能力主要由信噪比和圖像中獲得的對(duì)比度噪比 (CNR) 決定，并可能會(huì)因重影等偽影的存在而降低。 CNR性能受場(chǎng)強(qiáng)的影響很大。臨床方案通常會(huì)根據(jù)這一點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整。因此，如果 ACR T1 和 T2 系列的低對(duì) 比度物體檢測(cè)失敗，則將該測(cè)試應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)系列。大多數(shù)掃描儀可以通過ACR系列的測(cè)試，但這足以讓掃描儀通過兩個(gè)站點(diǎn)系列。這個(gè)測(cè)試的失敗意味著掃描儀產(chǎn)生的圖像顯示的低對(duì)比度物體明顯少于大多數(shù)正常功能的臨床掃描儀。通常，一個(gè)故障表示低信噪比。但有時(shí) ，文物，如重影，也會(huì)起到作用。

核磁模體3

3.模體擺放位置

擺位時(shí)需確保模體在各個(gè)方向上保持水平(圖 A. 2) ，圖像定位方法見如下圖。ACR推薦的必要掃描序列(表 A. 1)包括一個(gè) T1W-SE 矢狀位序列（正中定位像， FOV≥240x240 mm 2 , 1層，層厚： 20 mm），一個(gè) T1W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x240 mm 2 , 11層，層厚： 5mm ，層間距： 5 mm ，像素<0.9x0.9 mm2) , 和一個(gè) T2W-SE 橫軸位序列（ FOV≥240x 240 mm 2 , 11層，層厚： 5 mm ，層間距： 5 mm ，像素<0 . 9x0 . 9 mm2) 。在此基礎(chǔ)上，測(cè)試者可根據(jù)需求自行增加幾何參數(shù)保持一致的其他橫軸位測(cè)試序列。

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